Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica :
Herrera García, Jesús Rigoberto.
Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica : operación en aire y líquido [recurso electrónico] / Jesús Rigoberto Herrera García ; directora, Guadalupe Lydia Alvarez Camacho. - Mexicali, Baja California, 2011. - 1 recurso en línea (67 p. : il. col., gráficas)
Maestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería.
Tesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería, Mexicali, 2011.
Incluye referencias bibliográficas.
La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta y la muestra mediante la deflexión de una ménsula. Indispensable para el funcionamiento adecuado del microscopio es el alineamiento, que consiste en dirigir un láser sobre la ménsula en la que se refleja para llegar a un fotodetector y así medir su deflexión. A pesar de los grandes avances que ha tenido esta microscopía en los últimos años, aún existen problemas relacionados con los materiales con los que el microscopio está diseñado. El microscopio con el que se cuenta en el Instituto de Ingeniería tiene la opción de celda líquida, que permite trabajar con muestras cuando requieren sumergirse en alguna solución acuosa. Cuando se emplea la opción de celda líquida el alineamiento se complica considerablemente. Mediante esta investigación se pretende analizar la influencia que tienen en esto la absorción, transmisión y reflexión de la luz del haz láser. Se espera que los resultados proporcionen criterios útiles que auxilien al usuario durante el ali
Microscopios de fuerza atómica--Tesis y disertaciones académicas.
Microscopios--Tesis y disertaciones académicas.
QH212.A78 / H477 2011
Nivel óptico de un microscopio de fuerza atómica : operación en aire y líquido [recurso electrónico] / Jesús Rigoberto Herrera García ; directora, Guadalupe Lydia Alvarez Camacho. - Mexicali, Baja California, 2011. - 1 recurso en línea (67 p. : il. col., gráficas)
Maestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería.
Tesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería, Mexicali, 2011.
Incluye referencias bibliográficas.
La técnica de microscopía de fuerza atómica es utilizada ampliamente en los centros de investigación que trabajan con síntesis y caracterización de materiales novedosos. En el microscopio de fuerza atómica (AFM) se miden las interacciones entre una punta y la muestra mediante la deflexión de una ménsula. Indispensable para el funcionamiento adecuado del microscopio es el alineamiento, que consiste en dirigir un láser sobre la ménsula en la que se refleja para llegar a un fotodetector y así medir su deflexión. A pesar de los grandes avances que ha tenido esta microscopía en los últimos años, aún existen problemas relacionados con los materiales con los que el microscopio está diseñado. El microscopio con el que se cuenta en el Instituto de Ingeniería tiene la opción de celda líquida, que permite trabajar con muestras cuando requieren sumergirse en alguna solución acuosa. Cuando se emplea la opción de celda líquida el alineamiento se complica considerablemente. Mediante esta investigación se pretende analizar la influencia que tienen en esto la absorción, transmisión y reflexión de la luz del haz láser. Se espera que los resultados proporcionen criterios útiles que auxilien al usuario durante el ali
Microscopios de fuerza atómica--Tesis y disertaciones académicas.
Microscopios--Tesis y disertaciones académicas.
QH212.A78 / H477 2011
