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Neonatal monitoring technologies : design for integrated solutions / Wei Chen, Sidarto Bambang, y Loe Feijs, [editors]. - Hershey, Pa. : Medical Information Science Reference, c2012. - xxvi, 510 p. : il. ; 29 cm.

Incluye referencias bibliográficas e índice.

ISBN: 9781466609754

Subjects--Topical Terms:
Neonatología--Innovaciones tecnológicas.
Niños recién nacidos--Exámenes médicos.
Niños prematuros--Atención hospitalaria.

LC Class. No.: RJ251 / N46 2012