Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
Alcaraz Santillán, Abelardo.
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado [recurso electrónico] / Abelardo Alcaraz Santillán. - Tijuana, Baja California, 2013. - Recurso en línea. (70 p.) : il., col.
Tesís (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Tijuana, 2013.
Química --Tesis y disertaciones académicas.
Microscopia Electrónica --Tesis y disertaciones académicas.
QD40 / A52 2013
Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado [recurso electrónico] / Abelardo Alcaraz Santillán. - Tijuana, Baja California, 2013. - Recurso en línea. (70 p.) : il., col.
Tesís (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Tijuana, 2013.
Química --Tesis y disertaciones académicas.
Microscopia Electrónica --Tesis y disertaciones académicas.
QD40 / A52 2013
