Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Joseph I. Goldstein ... [et al.]
- 4th ed.
- New York, NY : Springer, 2018.
- xxiii, 550 p. : 29 cm. il. ;
Incluye referencias bibliográficas e índice.
9781493966769 9781493966745
Microscopia.
QH212.S3 / S23 2018
Incluye referencias bibliográficas e índice.
9781493966769 9781493966745
Microscopia.
QH212.S3 / S23 2018