Cálculo de la sensibilidad a errores de medición en la extracción de los parámetros de ruido de transistores de alta frecuencia / David Guadalupe Hernández Nungaray.

Por: Hernández Nungaray, David GuadalupeTipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: Mexicali, Baja California : Universidad Autónoma de Baja California, 2003Descripción: 80h. ; 28cmNota de disertación: (licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California, 2003.
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