Estudio de errores de medición en las técnicas de extracción de los parámetros de ruido en transistores de microondas [recurso electrónico] / Rosa María Victoria Hernández Camiro ; director Daniel Hernández Balbuena.
Tipo de material:
Archivo de ordenadorIdioma: Español Detalles de publicación: Mexicali, Baja California, 2006Descripción: 1 recurso en línea (65 p. : gráficas)Tema(s): Ruido electrónico -- Tesis y disertaciones académicas | Control del ruido -- Modelos matemáticos -- Tesis y disertaciones académicasClasificación LoC:TK7867.5 | H47 2006Recursos en línea: Tesis Digital
Nota de disertación: Tesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Mexicali, 2006. Resumen: Uno de los parámetros que define la calidad de la información trasmitida por un sistema de comunicación es la razón señal a ruido, usualmente conocida como S/N. Esta cantidad es determinada en parte por el primer amplificador de Radio Frecuencia en el sistema, los diseñadores de amplificadores de bajo ruido han incrementado la variedad de transistores de alto rendimiento para el diseño de estos dispositivos. Los parámetros que representan el rendimiento de un amplificador de alta frecuencia son: la figura de ruido óptima F0, la resistencia equivalente de ruido Rn y el coeficiente de reflexión óptimo ?0, con sus componentes en la parte real G0 e imaginaria B0. Estos cuatro parámetros definen el comportamiento del factor de ruido de un dispositivo activo en función de la impedancia de la fuente que se le presenta en su puerto de entrada. El objetivo de este trabajo es estudiar la sensibilidad a los errores de medición de las técnicas de extracción de impedancias múltiples, utilizada para la obtención de los parámetros mencionados anteriormente, en función de las constelaciones de los coeficientes de reflexión para su medición. Primero se revisaron los trabajos más trascendentes desarrollados con base a la técnica de impedancias múltiples, con la finalidad de encontrar la mejor técnica que reduzca el error de medición de los parámetros, mediante el número de puntos que componen la constelación y su distribución sobre la carta de Smith. Se simularon los resultados de las técnicas propuestas mediante el desarrollo de algoritmos, realizando un trabajo comparativo basado en la sensibilidad al error de medición. A través de los resultados obtenidos, se encontró que la técnica de dos etapas propuesta por Bosch, es la que presenta mayor sensibilidad, así también modificando ésta se buscaron nuevas distribuciones, encontrándose que no hay una distribución que realice la medición confiable de los cuatro parámetros a la vez, lo que indica que se requiere una distribución diferente para reducir el er
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Tesis | Biblioteca Central Mexicali | Área de Préstamo | TK7867.5 H47 2006 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | MXL098875 |
Maestría en Ingenieria Electrónica.
Tesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Mexicali, 2006.
Incluye referencias bibliográficas.
Uno de los parámetros que define la calidad de la información trasmitida por un sistema de comunicación es la razón señal a ruido, usualmente conocida como S/N. Esta cantidad es determinada en parte por el primer amplificador de Radio Frecuencia en el sistema, los diseñadores de amplificadores de bajo ruido han incrementado la variedad de transistores de alto rendimiento para el diseño de estos dispositivos. Los parámetros que representan el rendimiento de un amplificador de alta frecuencia son: la figura de ruido óptima F0, la resistencia equivalente de ruido Rn y el coeficiente de reflexión óptimo ?0, con sus componentes en la parte real G0 e imaginaria B0. Estos cuatro parámetros definen el comportamiento del factor de ruido de un dispositivo activo en función de la impedancia de la fuente que se le presenta en su puerto de entrada. El objetivo de este trabajo es estudiar la sensibilidad a los errores de medición de las técnicas de extracción de impedancias múltiples, utilizada para la obtención de los parámetros mencionados anteriormente, en función de las constelaciones de los coeficientes de reflexión para su medición. Primero se revisaron los trabajos más trascendentes desarrollados con base a la técnica de impedancias múltiples, con la finalidad de encontrar la mejor técnica que reduzca el error de medición de los parámetros, mediante el número de puntos que componen la constelación y su distribución sobre la carta de Smith. Se simularon los resultados de las técnicas propuestas mediante el desarrollo de algoritmos, realizando un trabajo comparativo basado en la sensibilidad al error de medición. A través de los resultados obtenidos, se encontró que la técnica de dos etapas propuesta por Bosch, es la que presenta mayor sensibilidad, así también modificando ésta se buscaron nuevas distribuciones, encontrándose que no hay una distribución que realice la medición confiable de los cuatro parámetros a la vez, lo que indica que se requiere una distribución diferente para reducir el er
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