Derecho de patentes : observancia en diversos países / Gerhard Schricker, Sibylle Schlatter ; Instituto Max Planck para el Derecho de Propiedad Intelectual, de la Competencia y Tributario en Munich ; Ivan B. Ahlert ... [et al.].

Por: Schricker, GerhardColaborador(es): Schlatter, Subylle [coaut.] | Ahlert, Ivan B | Max-Planck-Institut fuÌr Geistiges Eigentum, Wettbewerbs- und SteuerrechtTipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: Buenos Aires : LexisNexis Depalma, 2003Edición: 1a edDescripción: 279 p. ; 23 cmISBN: 9501418960; 9789501418965Tema(s): Patentes de invención -- LegislaciónClasificación LoC:K1505 | S24 2003
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Incluye referencias bibliográficas (p. [267]-273) e índice.

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