Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder.
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TextoDetalles de publicación: [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. : IEEE Press ; Wiley, c2006Edición: 3rd edDescripción: xv, 779 p. : il. ; 25 cmISBN: 0471739065 (acid-free paper); 9780471739067 (acid-free paper)Tema(s): Semiconductores | Semiconductores -- Pruebas | Semiconductors | Semiconductors -- TestingClasificación LoC:QC611 | S24 2006
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libro
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Biblioteca Central Mexicali | Acervo General | QC611 S24 2006 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | MXL101065 | |
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Libro
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Biblioteca Central Mexicali | Acervo General | QC611 S24 2006 (Browse shelf(Abre debajo)) | 2 | Disponible | MXL101902 |
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"Wiley-Interscience."
Incluye referencias bibliográficas e índice.
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