Síntesis y Caracterización de Películas Delgadas de ZnO:Ag [recurso electrónico] / José Juan Araiza Liera ; dirigida por Manuel Herrera Zaldívar, Ulises J. Tamayo Pérez

Por: Araiza Liera, José JuanColaborador(es): Herrera Zaldívar, Manuel | Tamayo Pérez, Ulises JTipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: Ensenada, Baja California, 2017Descripción: 1 recurso en línea ix, 63 p. : ilTema(s): Ingeniería -- Tesis y disertaciones académicas | Películas delgadasClasificación LoC:QC176.83 | A73 2017Recursos en línea: Tesis Digital Texto Nota de disertación: Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Arquitectura y Diseño, Ensenada, 2017 Resumen: En este trabajo de tesis se estudió la presencia de defectos puntuales y la composición química de películas de ZnO no dopadas y dopadas con plata fabricadas por el método hidrotermal. Para identificar los defectos puntuales en estas películas se realizaron análisis de catadoluminiscencia (CL), así como de espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X (XPS) y espectroscopia de rayos X por energía dispersa (EDS) para un estudio de composición química. Los resultados CL mostraron que tanto las películas dopadas con Ag como las que no dopadas exhibían una emisión de borde de banda -3.2 eV, y emisiones de defectos centradas en 2.2 y 2.5 eV, atribuidas a las bien conocidas emisiones amarilla y verde del ZnO, respectivamente
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Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Arquitectura y Diseño, Ensenada, 2017

Incluye referencias bibliográficas

En este trabajo de tesis se estudió la presencia de defectos puntuales y la composición química de películas de ZnO no dopadas y dopadas con plata fabricadas por el método hidrotermal. Para identificar los defectos puntuales en estas películas se realizaron análisis de catadoluminiscencia (CL), así como de espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X (XPS) y espectroscopia de rayos X por energía dispersa (EDS) para un estudio de composición química. Los resultados CL mostraron que tanto las películas dopadas con Ag como las que no dopadas exhibían una emisión de borde de banda -3.2 eV, y emisiones de defectos centradas en 2.2 y 2.5 eV, atribuidas a las bien conocidas emisiones amarilla y verde del ZnO, respectivamente

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