Simulación de la interacción de un voladizo con una superficie heterogénea en un microscopio de fuerza atómica [recurso electrónico] / Rubén Alaniz Plata ; director, Jesús Rigoberto Herrera García; codirector, Luis Arturo Martínez Alvarado
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: Mexicali, Baja California, 2019Descripción: 1 recurso en línea, 77 p. ; il. colTema(s): Microscopía de fuerza atómica -- Tesis y disertaciones académicasClasificación LoC:QH212 .A78 | A53 2019Recursos en línea: Tesis Digital
Nota de disertación: Tesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ingeniería, Mexicali, 2019. Resumen: El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente
utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins-
trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las fases de la superficie
en una muestra. Existen modelos que predicen con buena exactitud la interacci ́on entre
el voladizo del microscopio y la superficie, que sumados al procesamiento de se ̃nales
del sistema permiten el dise ̃no de microscopios virtuales. Para determinar par ́ametros
́optimos y algoritmos de medici ́on que permitan mayor rendimiento y precisi ́on en las
t ́ecnicas de microscop ́ıa de barrido, se simula la interacci ́on de una superficie hete-
rog ́enea con el voladizo. Se logra para ello, a trav ́es de una interfaz gr ́afica mostrar
al usuario las se ̃nales, superficies y datos generados en el proceso de simulaci ́on de la
interacci ́on. El an ́alisis se realiza a lazo abierto y simplificando considerablemente el
sistema, sin embargo es posible mejorar la simulaci ́on incluyendo m ́as elementos en la
funci ́on de transferencia y se ̃nales de control.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Tesis | Biblioteca Central Mexicali | Colección de Tesis | QH212 .A78 A53 2019 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | MXL122240 |
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Maestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería
Tesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ingeniería, Mexicali, 2019.
El Microscopio de Fuerza At ́omica (AFM, por sus siglas en ingl ́es) es ampliamente
utilizado en la caracterizaci ́on de superficies alcanzando resoluci ́on at ́omica. Es un ins-
trumento vers ́atil cuyo objetivo es identificar la topograf ́ıa y las fases de la superficie
en una muestra. Existen modelos que predicen con buena exactitud la interacci ́on entre
el voladizo del microscopio y la superficie, que sumados al procesamiento de se ̃nales
del sistema permiten el dise ̃no de microscopios virtuales. Para determinar par ́ametros
́optimos y algoritmos de medici ́on que permitan mayor rendimiento y precisi ́on en las
t ́ecnicas de microscop ́ıa de barrido, se simula la interacci ́on de una superficie hete-
rog ́enea con el voladizo. Se logra para ello, a trav ́es de una interfaz gr ́afica mostrar
al usuario las se ̃nales, superficies y datos generados en el proceso de simulaci ́on de la
interacci ́on. El an ́alisis se realiza a lazo abierto y simplificando considerablemente el
sistema, sin embargo es posible mejorar la simulaci ́on incluyendo m ́as elementos en la
funci ́on de transferencia y se ̃nales de control.
