Optimización de equipo electrónico para la prueba de circuitos integrados de radiofrecuencia que contienen amplificadores de bajo ruido [recurso electrónico] / Alfredo Espinoza Ortiz ; director, Nicola Radnev Nedev ; Mario Alberto Curiel Álvarez
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: Mexicali, Baja California, 2020Descripción: Recurso en línea, 127 p. : il. colTema(s): Circuitos integrados -- Tesis y disertaciones académicas. -- Diseño y construcciónClasificación LoC:TK7874 | E86 2020Recursos en línea: Tesis Digital.
Nota de disertación: Tesis (Maestría ) -- Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería, Mexicali, 2020 Resumen: Para abordar el tema de investigación relacionado a la prueba de circuitos integrados que contienen
amplificadores de bajo ruido, es esencial comenzar con la historia y antecedentes de los
dispositivos que se han desarrollado hasta el momento, para después, presentar los equipos de
prueba utilizados en la industria. Desde hace 25 años hasta la actualidad aproximadamente, la rama
de la electrónica en semiconductores de radiofrecuencia se ha convertido en uno de los sectores
que más está siendo impulsado en el entorno industrial, debido al rápido crecimiento de la
necesidad de dispositivos para comunicaciones inalámbricas; sin embargo, antes de los años
1980s, esta tecnología estaba orientada únicamente a aplicaciones militares. Esta situación, cambió
radicalmente cuando en la primera mitad de los años 1980s, se comenzó a utilizar televisión por
satélite con la aplicación de transistores de bajo ruido operando a frecuencias de 12 GHz en
dispositivos receptores, de modo que, esta fue la primera aplicación civil que despuntó el
crecimiento de esta tecnología [1].
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Tesis | Biblioteca Central Mexicali | Colección de Tesis | TK7874 E86 2020 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | MXL122509 |
Maestría en Ciencias
Tesis (Maestría ) -- Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería, Mexicali, 2020
Para abordar el tema de investigación relacionado a la prueba de circuitos integrados que contienen
amplificadores de bajo ruido, es esencial comenzar con la historia y antecedentes de los
dispositivos que se han desarrollado hasta el momento, para después, presentar los equipos de
prueba utilizados en la industria. Desde hace 25 años hasta la actualidad aproximadamente, la rama
de la electrónica en semiconductores de radiofrecuencia se ha convertido en uno de los sectores
que más está siendo impulsado en el entorno industrial, debido al rápido crecimiento de la
necesidad de dispositivos para comunicaciones inalámbricas; sin embargo, antes de los años
1980s, esta tecnología estaba orientada únicamente a aplicaciones militares. Esta situación, cambió
radicalmente cuando en la primera mitad de los años 1980s, se comenzó a utilizar televisión por
satélite con la aplicación de transistores de bajo ruido operando a frecuencias de 12 GHz en
dispositivos receptores, de modo que, esta fue la primera aplicación civil que despuntó el
crecimiento de esta tecnología [1].
