Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / L. Reimer.

Por: Reimer, Ludwig, 1928-Tipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: Germany : Springer, 2010Edición: 2nd edDescripción: xiv, 527 p. : il. ; 24 cmISBN: 9783642083723Tema(s): MicroscopiaClasificación LoC:QH212.S3 | R45 2010
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