Estudio de propiedades eléctricas y micro-estructurales en películas de Ba1-x SrxTiO3 Dan-el Madrigal Ojeda.
Tipo de material:
TextoIdioma: Español Detalles de publicación: Ensenada, Baja California, 1999Descripción: 35 p. ; 28 cmTema(s): Películas delgadas (Física) | Físico -- Tesis y disertaciones académicasClasificación LoC:QC378 | M33 1999Recursos en línea: Tesis Digital.
Nota de disertación: Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ciencias, Ensenada, 1999. Resumen: Este estudio consiste en analizar las propiedades ferroeléctricas y microestructurales de películas delgadas de Ba1-x SrxTiO3 (BST) depositadas por el método de ablación láser, en sustratos de SiO2/c-Si y Pt/Ti/SiO2/c-Si.LAs películas son amorfas al finalizar el proceso de deposito, pero cristalizan después de un recorrido (annealing) arriba de 500 C.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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| Tesis | Biblioteca Central Ensenada | Colección de Tesis | QC378 M33 1999 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | ENS027952 |
Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ciencias, Ensenada, 1999.
Incluye referencias bibliográficas.
Este estudio consiste en analizar las propiedades ferroeléctricas y microestructurales de películas delgadas de Ba1-x SrxTiO3 (BST) depositadas por el método de ablación láser, en sustratos de SiO2/c-Si y Pt/Ti/SiO2/c-Si.LAs películas son amorfas al finalizar el proceso de deposito, pero cristalizan después de un recorrido (annealing) arriba de 500 C.
