TY  - BOOK
AU  - Lauwereins,Rudy
AU  - Madsen,Jan
ED  - Design, Automation, and Test in Europe Conference and Exhibition.
TI  - Design, automation, and test in Europe: the most influential papers of 10 years date 
SN  - 9781402064876
AV  - TK7867 D48 2008
PY  - 2008///
CY  - [Dordrecht]
PB  - Springer
KW  - Diseño de circuitos electrónicos
KW  - Procesamiento de datos
KW  - Congresos, conferencias, etc
KW  - lemb
KW  - Sistemas electrónicos
KW  - Diseño y construcción
KW  - Sistemas en un chip
KW  - Electronic circuit design
KW  - Data processing
KW  - Congresses
KW  - Electronic systems
KW  - Design and construction
KW  - Systems on a chip
N1  - Fecha de selección de los documentos (Design Automation and Test in Europe) conferences, 1998-2007; Incluye referencias bibliográficas e índice
ER  -