TY  - BOOK
AU  - Schroder,Dieter K.
TI  - Semiconductor material and device characterization
SN  - 0471739065 (acid-free paper)
AV  - QC611 S24 2006
PY  - 2006///
CY  - [Piscataway, NJ], Hoboken, N.J.
PB  - IEEE Press, Wiley
KW  - Semiconductores
KW  - lemb
KW  - Pruebas
KW  - Semiconductors
KW  - Testing
N1  - "Wiley-Interscience."; Incluye referencias bibliográficas e índice
ER  -