TY  - DATA
AU  - Alcaraz Santillán,Abelardo
TI  - Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado
AV  - QD40 A52 2013
PY  - 2013///
CY  - Tijuana, Baja California
KW  - Química
KW  - Tesis y disertaciones académicas
KW  - lemb
KW  - Microscopia Electrónica
N1  - Tesís (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Tijuana, 2013
UR  - https://drive.google.com/open?id=0B07Wz0dDs1vFMW8tVF81dWtzRzg
ER  -