TY  - BOOK
AU  - Goldstein,Joseph I.
TI  - Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
SN  - 9781493966769
AV  - QH212.S3	 S23 2018
PY  - 2018///
CY  - New York, NY : 
PB  - Springer
KW  - Microscopia
KW  - lemb
N1  - Incluye referencias bibliográficas e índice.
ER  -