Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / L. Reimer.
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TextoDetalles de publicación: Germany : Springer, 2010Edición: 2nd edDescripción: xiv, 527 p. : il. ; 24 cmISBN: 9783642083723Tema(s): MicroscopiaClasificación LoC:QH212.S3 | R45 2010
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libro
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Biblioteca Central Mexicali | Acervo General | QH212.S3 R45 2010 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | MXL124918 |
Incluye referencias bibliográficas e índice.
