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		Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition [recurso electrónico] : Joint IAPR International Workshop, SSPR&SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18-20, 2010. Proceedings / edited by Edwin R. Hancock, Richard C. Wilson, Terry Windeatt, Ilkay Ulusoy, Francisco Escolano. por Hancock, Edwin R [editor.] \| Wilson, Richard C [editor.] \| Windeatt, Terry [editor.] \| Ulusoy, Ilkay [editor.] \| Escolano, Francisco [editor.] \| SpringerLink (Online service). Series Lecture Notes in Computer Science ; 6218Origen: Springer eBooksTipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2010Acceso en línea: Libro electrónico Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Biblioteca Electrónica Not for loan (1) Signatura topográfica: Q334 -342.
		Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition [recurso electrónico] : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings / edited by Antonio Robles-Kelly, Marco Loog, Battista Biggio, Francisco Escolano, Richard Wilson. por Robles-Kelly, Antonio [editor.] \| Loog, Marco [editor.] \| Biggio, Battista [editor.] \| Escolano, Francisco [editor.] \| Wilson, Richard [editor.] \| SpringerLink (Online service). Series Lecture Notes in Computer Science ; 10029Origen: Springer eBooksTipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2016Acceso en línea: Libro electrónico Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Biblioteca Electrónica Not for loan (1) .

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