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		Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits [recurso electrónico] : Mitigating Soft Errors and Process Variations / by Rajesh Garg, Sunil P. Khatri. por Garg, Rajesh [author.] \| Khatri, Sunil P [author.] \| SpringerLink (Online service). Origen: Springer eBooksTipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston, MA : Springer US, 2010Acceso en línea: Libro electrónico Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Biblioteca Electrónica Not for loan (1) Signatura topográfica: TK7888.4.
		Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design [recurso electrónico] / by Nikhil Jayakumar, Suganth Paul, Rajesh Garg, Kanupriya Gulati, Sunil P. Khatri. por Jayakumar, Nikhil [author.] \| Paul, Suganth [author.] \| Garg, Rajesh [author.] \| Gulati, Kanupriya [author.] \| Khatri, Sunil P [author.] \| SpringerLink (Online service). Origen: Springer eBooksTipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston, MA : Springer US, 2010Acceso en línea: Libro electrónico Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Biblioteca Electrónica Not for loan (1) Signatura topográfica: TK7888.4.

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