Fundamentals of modern VLSI devices / Yuan Taur, Tak H. Ning.
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TextoDetalles de publicación: Cambridge, UK ; New York : Cambridge University, 2009Edición: 2nd edDescripción: xxiii, 656 p. : il. ; 26 cmISBN: 9780521832946; 0521832942Tema(s): Semiconductores de metal óxido complementarios | Transistores bipolares | Circuitos integrados -- Integración a gran escala | Metal oxide semiconductors, Complementary | Bipolar transistors | Integrated circuits -- Very large scale integrationClasificación LoC:TK7871.99.M44 | T38 2009Recursos en línea: Contributor biographical information
| Publisher description | Table of contents only
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libro
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Biblioteca Central Mexicali | Acervo General | TK7871.99 .M44 T38 2009 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | MXL099591 | |
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Libro
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Biblioteca Central Mexicali | Acervo General | TK7871.99 .M44 T38 2009 (Browse shelf(Abre debajo)) | 2 | Disponible | MXL101022 |
Incluye referencias bibliográficas e índice.
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