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		Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition [recurso electrónico] : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings / edited by Antonio Robles-Kelly, Marco Loog, Battista Biggio, Francisco Escolano, Richard Wilson. por Robles-Kelly, Antonio [editor.] \| Loog, Marco [editor.] \| Biggio, Battista [editor.] \| Escolano, Francisco [editor.] \| Wilson, Richard [editor.] \| SpringerLink (Online service). Series Lecture Notes in Computer Science ; 10029Origen: Springer eBooksTipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2016Acceso en línea: Libro electrónico Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Biblioteca Electrónica Not for loan (1) .
		Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition [electronic resource] : Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018, Proceedings / edited by Xiao Bai, Edwin R. Hancock, Tin Kam Ho, Richard C. Wilson, Battista Biggio, Antonio Robles-Kelly. por Bai, Xiao [editor.] \| Hancock, Edwin R [editor.] \| Ho, Tin Kam [editor.] \| Wilson, Richard C [editor.] \| Biggio, Battista [editor.] \| Robles-Kelly, Antonio [editor.] \| SpringerLink (Online service). Series Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics ; 11004Edición: 1st ed. 2018.Origen: Springer Nature eBookTipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2018Acceso en línea: Libro electrónico Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Biblioteca Electrónica Not for loan (1) .

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