000			01864cmm a2200253 a 4500
001			u315731
003			SIRSI
008			091112s2008 mx fo | spa d
040			_cMX-MeUAM
050		0	_aTK453 _bM54 2008
100	1		_aMijares Chan, Jose Juan.
245	1	0	_aReducción de fuentes de error en la medición de la colocación de dispositivos de montaje superficial _h[recurso electrónico] / _cJose Juan Mijares Chan ; dir. Miguel Bravo Zanogera.
260			_aMexicali, Baja California, _c2008.
300			_a1 recurso en línea (vi, 80 p. : _bil. col., gráficas)
502			_aTesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Mexicali, 2008.
504			_aIncluye referencias bibliográficas.
520			_aEn la actualidad, la medición de la precisión de la colocación de dispositivos de montaje superficial se ve comprometida con la miniaturización del empaque de los dispositivos, el costo de las pruebas y la diversidad de equipos de medición y montaje. Asimismo, los estándares de medición y las implementaciones en la industria no contemplan la reducción de error en la metodología de medición. Por ello, este documento plantea no solo una metodología general contemplando la reducción del error y la resolución óptica del sistema, sino también su uso en combinación con el mantenimiento preventivo de los equipos de montaje y el impacto en la calidad en la empresa Sony Baja California en Mexicali, Baja California, M
650		7	_aIngeniería eléctrica _xMateriales _vTesis y disertaciones académicas. _2lemb
700	1		_aBravo Zanogera, Miguel, _edir.
710	2		_aUniversidad Autónoma de Baja California. _bFacultad de Ingeniería.
856	4		_zTesis Digital _uhttps://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTX3FEei1NdE04RFk/view?usp=sharing
596			_a2
942			_cTESIS
999			_c157674 _d157674