000 01262cam a2200349 a 4500
001 u318354
003 SIRSI
005 20240920152645.0
008 100317s2006 njua fr 001 0 eng c
020 _a0471784060 (cloth : alk. paper)
020 _a9780471784067
040 _aDLC
_cDLC
_dUKM
_dBAKER
_dC#P
_dCOO
_dDLC
042 _apcc
050 0 _aTK7871.85
_bM393 2006
100 1 _aMay, Gary S.
245 1 0 _aFundamentals of semiconductor manufacturing and process control /
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_c25 cm.
504 _aIncluye referencias biliográficas e índice.
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590 _aProgEdu: 7006; 29003;
590 _aAresCon: INGENIERÍA.TECNOLOGÍA;
650 0 _aSemiconductors
_xDesign and construction.
650 0 _aIntegrated circuits
_xDesign and construction.
650 0 _aProcess control
_xStatistical methods.
650 7 _aSemiconductores
_xDiseño y construcción.
_2lemb
650 7 _aCircuitos integrados
_xDiseño y construcción.
_2lemb
650 7 _aControl del proceso
_xMétodos estadísticos.
_2lemb
700 1 _aSpanos, Costas J.
942 _cRES_ABS
999 _c160025
_d160025