| 000 | 00958cmm a2200217 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | u368725 | ||
| 003 | SIRSI | ||
| 005 | 20171114154242.0 | ||
| 008 | 150209s2013 mx fo | spa d | ||
| 040 | _cMX-MeUAM | ||
| 050 | 0 |
_aQD40 _bA52 2013 |
|
| 100 | 1 | _aAlcaraz Santillán, Abelardo. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aAplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado _h[recurso electrónico] / _cAbelardo Alcaraz Santillán. |
| 260 |
_aTijuana, Baja California, _c2013. |
||
| 300 |
_aRecurso en línea. (70 p.) : _bil., col. |
||
| 502 | _aTesís (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Tijuana, 2013. | ||
| 650 | 7 |
_aQuímica _vTesis y disertaciones académicas. _2lemb |
|
| 650 | 7 |
_aMicroscopia Electrónica _vTesis y disertaciones académicas. _2lemb |
|
| 856 | 4 |
_uhttps://drive.google.com/open?id=0B07Wz0dDs1vFMW8tVF81dWtzRzg _zTesis Digital. |
|
| 942 | _cTESIS | ||
| 999 |
_c197012 _d197012 |
||