000 | 02629cmm a2200265 a 4500 | ||
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001 | u383236 | ||
003 | SIRSI | ||
008 | 150618s2015 mx fo | spa d | ||
040 | _cMX-MeUAM | ||
050 | 0 |
_aQC176.8.M34 _bL59 2015 |
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100 | 1 | _aLizárraga Maldonado, Alejandro. | |
245 | 1 | 0 |
_aEstudio y caracterización de películas delgadas basadas en silicio depositadas por sputtering con magnetrón RF _h[recurso electrónico] / _cAlejandro Lizárraga Maldonado ; director, Mario Alberto Curiel Álvarez. |
260 |
_aMexicali, Baja California, _c2015. |
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300 |
_a1 recurso en línea (62 p. : _bil., gráficas) |
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500 | _aMaestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería. | ||
502 |
_aTesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California. _bInstituto de Ingeniería, Mexicali, 2015. |
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504 | _aIncluye referencias bibliográficas. | ||
520 | _aEn el presente trabajo se estudian las propiedades de películas delgadas basadas en Silicio depositadas por medio de Espurreo con Magnetrón RF empleado Argón como gas de trabajo a diferentes presiones. Las películas obtenidas se analizaron por medio de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), Espectroscopía de rayos X por energía dispersiva (EDS), Elipsometría Espectroscópica de Angulo Variable (VASE) y técnicas de caracterización eléctrica. Para el análisis de los datos de elipsometría se realizaron ajustes por medio de diversos modelos de funciones dieléctricas (B-Spline, Osciladores Generales) y se calcularon las constantes ópticas de las diferentes muestras. Un estudio preliminar de Elipsometría Espectroscópica (SE) permitió observar que las películas depositadas poseían constantes ópticas de óxidos de Silicio sub-estequiométricos (SiOx) con diferentes composiciones. Los espectros obtenidos de EDS confirmaron la presencia de Oxígeno en diferentes concentraciones en los depósitos y se observó una relación entre la presión de trabajo y el cambio de las constantes ópticas. A pesar de que la composición elemental de las películas no correspondía a las condiciones de depósito empleadas, se estudiaron sus propiedades ópticas y eléctricas de los depósitos y se propuso un modelo de elipsometría para la función dieléctrica de los depósitos. | ||
650 | 4 |
_aPulverización catódica magnetrón _vTesis y disertaciones académicas. |
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700 | 1 |
_aCuriel Álvarez, Mario Alberto, _edir |
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710 | 2 |
_aUniversidad Autónoma de Baja California. _bInstituto de Ingeniería. |
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856 | 4 |
_zTesis Digital _uhttps://drive.google.com/file/d/0B7AGEh5aIwoTaUVNWEl4OUx1LXM/view?usp=sharing |
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596 | _a2 | ||
942 | _cTESIS | ||
999 |
_c209872 _d209872 |