000 | 02191nam a22002657a 4500 | ||
---|---|---|---|
003 | MX-MeUAM | ||
005 | 20221021082525.0 | ||
008 | 181106s2018 mx ||||fo||d| 00| 0 spa d | ||
040 |
_aMX-MeUAM _bspa |
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050 | 1 | 4 |
_aTA480.N6 _bC38 2018 |
100 | 1 |
_aCastillo Sáenz, Jhonathan Rafael _914739 |
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245 | 1 | 0 |
_aSíntesis y caracterización de óxido de níquel para aplicación en dispositivos electrónicos _h[recurso electrónico] _cJhonathan Rafael Castillo Sáenz ; director, Nicola Radnev Nedev |
260 |
_aMexicali, Baja California, _c2018 |
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300 |
_a1 recurso en línea, 89 p. ; _bil. col. |
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500 | _aMaestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería. | ||
502 | _aTesis (Maestría) --Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería, Mexicali, 2018. | ||
504 | _aIncluye referencias bibliográficas. | ||
520 | _aSe sintetizó óxido de níquel (NiO) mediante el método sol-gel modificado, seguido de un proceso de precalcinación a 250 ° C y de calcinación a 800 ° C. Se usaron acetato de níquel, ácido cítrico y etilenglicol como precursores principales. La microscopía electrónica de barrido mostró que después de la calcinación, el material sintetizado presenta partículas con tamaños ≲ 10 micras. La espectroscopía de rayos X de energía dispersiva y la espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) revelaron una alta pureza del material. XPS indicó que el óxido de níquel sintetizado es estequiométrico. Las partículas calcinadas tienen una estructura cristalina cúbica como se demostró por difracción de rayos X. La espectroscopía Raman y la espectroscopía infrarroja de transformada de Fourier confirmaron que el método propuesto puede obtener óxido de níquel de alta pureza de manera eficaz y a bajo costo. | ||
650 | 7 |
_aNíquel _2lemb _vTesis y disertaciones académicas |
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650 | 4 |
_aNíquel _vTesis y disertaciones académicas _xCorrosión |
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700 | 1 |
_99466 _aRadnev Nedev, Nicola _edir. |
|
710 | 2 |
_aUniversidad Autónoma de Baja California. _bInstituto de Ingeniería _93321 |
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856 | 4 |
_uhttps://drive.google.com/open?id=1rlCdYhLzQ8ryXHI1TDwOZ9GUl3TMlSTi _zTesis digital |
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942 | _cTESIS | ||
999 |
_c231982 _d231982 |