000			01841nam a22002777a 4500
999			_c250864 _d250863
003			MX-MeUAM
005			20220609111603.0
008			200930s2022 mx fo d spa d
040			_aMX-MeUAM _bspa
050		4	_aTK7871.15.F5 _bO86 2022
100	1		_aOsorio Urquizo, Esteban _927237
245	1	0	_aSíntesis y caracterización de películas dieléctricas delgadas obtenidas por la técnica de erosión iónica / _h[recurso electrónico] / _cEsteban Osorio Urquizo ; director, Mario Alberto Curiel Álvarez ; codirector, Francisco David Mateos Anzaldo
260			_aMexicali, Baja California, _c2022
300			_a1 recurso en línea, 77 p. ; _bil. col., gráficas, fots.
500			_aMaestría y Doctorado en Ciencias e Ingeniería
502			_aTesis (Maestría) -- Universidad Autónoma de Baja California. Instituto de Ingeniería, Mexicali, 2022
504			_aIncluye referencias bibliográficas
520			_aDurante la década de 1950 las películas delgadas fueron estudiadas ampliamente para su implementación en la fabricación de dispositivos electrónicos y optoelectrónicos. No fue hasta principio de la década de 1960 que Weimer propuso un dispositivo denominado transistor de película delgada (por sus siglas en inglés, TFT), basado en películas delgadas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS).
650		7	_aPelículas delgadas _vTesis y disertaciones académicas. _xlemb
650		4	_aPelículas dieléctricas _vTesis y disertaciones académicas.
700	1		_aCuriel Alvarez, Mario Alberto _edir. _97588
700	1		_aMateos Anzaldo, Francisco David _ecodir. _922147
710	2		_93321 _aUniversidad Autónoma de Baja California. _bInstituto de Ingeniería
856	4		_uhttps://drive.google.com/file/d/1-RJo82_9OlWkeGmk6cneTU4mVsb3RuQw/view?usp=sharing _zTesis Digital.
942			_cTESIS