| 000 | 00660cam a2200217 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | u167497 | ||
| 003 | SIRSI | ||
| 008 | 930914b1979 a r eng | ||
| 040 | _cMX-MeUAM | ||
| 041 | 1 | _aeng | |
| 050 | 4 |
_aLB3051 _bI56 |
|
| 245 | 0 | 0 |
_aImpactive changes on measurement / _cedit. Roger T. Lennon. |
| 260 |
_aSan Francisco, Calif. : _bJossey-Bass, _c1979. |
||
| 300 |
_ax, 93 p. ; _c 24 cm. |
||
| 490 | 0 |
_aNew Directions for Testing and Measurement ; _v3. |
|
| 504 | _aIncluye bibliografia. | ||
| 690 |
_aEducacion _xPruebas y medicion E.U.A. Discursos, ensayos, conferencias. |
||
| 700 | 1 | _aLennon, Roger T., ed. | |
| 596 | _a8 | ||
| 942 | _cLIBRO | ||
| 999 |
_c31418 _d31418 |
||