000 00932cam a2200241 4500
999 _c44204
_d44204
001 u182444
003 SIRSI
005 20210617084101.0
008 930318s1985 mx a fr spa
040 _cMX-MeUAM
041 1 _aspa
050 4 _aQC176.84
_b.O7 S35 1985
100 1 _aSalazar Miranda, David.
245 1 0 _aCaracterización de películas delgadas a partir de medidas de transmitancia espectral /
_cDavid Salazar Miranda.
260 _aEnsenada, Baja Calif. :
_bEl autor,
_c1985.
300 _a80 p. ;
_c 28 cm.
502 _aTesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ciencias, Ensenada, 1985.
504 _aIncluye referencias bibliográficas.
650 4 _aPelículas delgadas (Física)
_xPropiedades ópticas.
650 4 _aFísica
_vTesis.
856 4 _zTesis Digital.
_uhttps://drive.google.com/file/d/1QK5uDmv8S5-utla469xhHAAkRzlMmQKT/view?usp=sharing
942 _cTESIS