000 | 00932cam a2200241 4500 | ||
---|---|---|---|
999 |
_c44204 _d44204 |
||
001 | u182444 | ||
003 | SIRSI | ||
005 | 20210617084101.0 | ||
008 | 930318s1985 mx a fr spa | ||
040 | _cMX-MeUAM | ||
041 | 1 | _aspa | |
050 | 4 |
_aQC176.84 _b.O7 S35 1985 |
|
100 | 1 | _aSalazar Miranda, David. | |
245 | 1 | 0 |
_aCaracterización de películas delgadas a partir de medidas de transmitancia espectral / _cDavid Salazar Miranda. |
260 |
_aEnsenada, Baja Calif. : _bEl autor, _c1985. |
||
300 |
_a80 p. ; _c 28 cm. |
||
502 | _aTesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ciencias, Ensenada, 1985. | ||
504 | _aIncluye referencias bibliográficas. | ||
650 | 4 |
_aPelículas delgadas (Física) _xPropiedades ópticas. |
|
650 | 4 |
_aFísica _vTesis. |
|
856 | 4 |
_zTesis Digital. _uhttps://drive.google.com/file/d/1QK5uDmv8S5-utla469xhHAAkRzlMmQKT/view?usp=sharing |
|
942 | _cTESIS |