Sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia /
Luna Rojas, Josadac
Sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia / Josadac Luna Rojas. - Ensenada, Baja California, 2005 - 99 p. : il. ; 28 cm.
Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Ensenada, 2005.
Incluye referencias bibliográficas.
En este trabajo se presenta el desarrollo de un sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia, este sistema puede servir para realizar prácticas escolares, para investigación o para uso comercial.
Dispositivos electrónicos--Medición.
Circuitos electrónicos--Medición.
Ingeniero en electrónica--Tésis.
TK7867 / L85 2005
Sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia / Josadac Luna Rojas. - Ensenada, Baja California, 2005 - 99 p. : il. ; 28 cm.
Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Ensenada, 2005.
Incluye referencias bibliográficas.
En este trabajo se presenta el desarrollo de un sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia, este sistema puede servir para realizar prácticas escolares, para investigación o para uso comercial.
Dispositivos electrónicos--Medición.
Circuitos electrónicos--Medición.
Ingeniero en electrónica--Tésis.
TK7867 / L85 2005
