Sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia / Josadac Luna Rojas.
Tipo de material:
TextoIdioma: Español Detalles de publicación: Ensenada, Baja California, 2005Descripción: 99 p. : il. ; 28 cmTema(s): Dispositivos electrónicos -- Medición | Circuitos electrónicos -- Medición | Ingeniero en electrónica -- TésisClasificación LoC:TK7867 | L85 2005Recursos en línea: Tesis Digital.
Nota de disertación: Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Ensenada, 2005. Resumen: En este trabajo se presenta el desarrollo de un sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia, este sistema puede servir para realizar prácticas escolares, para investigación o para uso comercial.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Tesis Reserva Absoluta | Biblioteca Central Ensenada | Colección de Tesis | TK7867 L85 2005 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | No para préstamo | ENS044483 |
Tesis (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California. Facultad de Ingeniería, Ensenada, 2005.
Incluye referencias bibliográficas.
En este trabajo se presenta el desarrollo de un sistema de medición automatizado para la caracterización de dispositivos de baja frecuencia, este sistema puede servir para realizar prácticas escolares, para investigación o para uso comercial.
