Aplicación de microscopia de fuerza atomica en caracterización de material particulado [recurso electrónico] / Abelardo Alcaraz Santillán.
Tipo de material:
Archivo de ordenadorDetalles de publicación: Tijuana, Baja California, 2013Descripción: Recurso en línea. (70 p.) : il., colTema(s): Química -- Tesis y disertaciones académicas | Microscopia Electrónica -- Tesis y disertaciones académicasClasificación LoC:QD40 | A52 2013Recursos en línea: Tesis Digital.
Nota de disertación: Tesís (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Tijuana, 2013.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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| Tesis | Biblioteca Central Tijuana | Colección de Tesis | QD40 A52 2013 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | TIJ102026 |
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Tesís (Licenciatura)--Universidad Autónoma de Baja California, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Tijuana, 2013.
