Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]

Colaborador(es): Goldstein, Joseph I [ed.]Tipo de material: Texto

TextoDetalles de publicación: New York, NY : Springer, 2018Edición: 4th edDescripción: xxiii, 550 p. : il. ; 29 cmISBN: 9781493966769; 9781493966745Tema(s): MicroscopiaClasificación LoC:QH212.S3 | S23 2018

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Libro	Biblioteca Central Mexicali	Acervo General	QH212.S3 S23 2018 (Browse shelf(Abre debajo))	1	Disponible		MXL124917

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Incluye referencias bibliográficas e índice.