Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: New York, NY : Springer, 2018Edición: 4th edDescripción: xxiii, 550 p. : il. ; 29 cmISBN: 9781493966769; 9781493966745Tema(s): MicroscopiaClasificación LoC:QH212.S3 | S23 2018
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libro
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Biblioteca Central Mexicali | Acervo General | QH212.S3 S23 2018 (Browse shelf(Abre debajo)) | 1 | Disponible | MXL124917 |
Incluye referencias bibliográficas e índice.
